描述：

工廠轉(zhuǎn)讓一臺(tái)進(jìn)口日本日立U-4100紫外/可見/近紅外分光光度計(jì)

分辨率: 0.1nm

譜帶寬度: UV/Vis: 0.1/ 0.2/ 0. 5/ 1/ 2 / 3/5/8nm 8

段轉(zhuǎn)換檢測(cè)器:光電倍增管 / InGaAs /Cooled PbS

雜散光: 0.00008%T 以下 (220nm,NaI 10g /L 溶液 )

產(chǎn)品介紹:U-4100日立雙單色器,雙光束紫外/可見/近紅外光譜儀最適合半導(dǎo)體、光學(xué)元件、新型材料的光譜性能研究,是功能最強(qiáng)勁的分光光度系統(tǒng)。

高性能的固體,液體,渾濁樣品測(cè)試系統(tǒng)。

透射,鏡面反射和漫反射都可測(cè)試。

使用超大樣品艙,樣品可至430 x 430mm,大型樣品測(cè)試也無需破壞。

紫外區(qū)可測(cè)至175nm。有四種系統(tǒng)可選:

1) U4100固體樣品測(cè)量系統(tǒng)(240-2600nm)

2) U4100大樣品測(cè)量系統(tǒng)(240-2600nm)

3) U4100紫外區(qū)高靈敏度測(cè)量系統(tǒng)(175-2600nm)

4) U4100液體樣品測(cè)量系統(tǒng)(185-3300nm)

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