描述：

FISCHERSCOPE-X-RAY XDV?-SDD是一個(gè)常見的能量色散X-RAY光譜儀,極其適合痕量分析中超薄鍍層的測量。同時(shí)也能實(shí)現(xiàn)鋁(13)到鈾(93)元素之間最多24種元素的同時(shí)測量。

典型應(yīng)用領(lǐng)域:

--測量超薄鍍層(例如金/鈀鍍層的測量可以達(dá)到≤0.1 μm)

--痕量分析(例如RoHS,廢棄電器件中檢測有害物質(zhì))

--黃金和貴金屬分析

--電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性涂料測定。

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