描述：

主要特點及優(yōu)點:

·在封裝或主動溫度控制之前簡化了激光二極管LIV測試

·芯片(chip)或棒料(bar)階段的激光二極管LIV生產(chǎn)測試的綜合解決方案

·可通過編程將掃描(sweep)停在光功率極限上

·針對脈沖與DC測試的高精度源與測量性能的完美結(jié)合

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