描述：

主要技術(shù)資料

·儀器指標(biāo):

1MHz~3GHz,以100KHz分檔

阻抗測量范圍寬,從200mΩ到3KΩ

在低測度信號電平上具有優(yōu)良的測量重復(fù)性

基本精度為1%

高速測量9ms

Agilent4287A射頻測試儀LCR在1MHz~3GHz頻率范圍可以提供精確,可靠和快速測量,以改進(jìn)生產(chǎn)線上對電子元件進(jìn)行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反向測量技術(shù)不同,采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測量。

·生產(chǎn)率高、質(zhì)量可靠

安捷倫4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進(jìn)行測試。4287A的測量速度非?？?。此外,在小測試電流(100mA)處優(yōu)良的測試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率,因為所需的取平均過程非常短。

·系統(tǒng)組建簡單

測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近,而不會使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。

·便于使用

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