描述：

?一、核心性能與技術(shù)參數(shù)?

?檢測(cè)范圍與靈敏度?

波長(zhǎng)范圍:185~3300 nm,覆蓋紫外、可見及近紅外全波段。

配置三檢測(cè)器:

?PMT檢測(cè)器?(紫外-可見區(qū))

?InGaAs檢測(cè)器?(彌補(bǔ)近紅外區(qū)靈敏度間隙)

?PbS檢測(cè)器?(近紅外區(qū))

確保全波段高靈敏度,1500 nm處噪聲低至0.00003 Abs。

?光學(xué)性能?

分辨率:0.1 nm,采用雙單色器光柵結(jié)構(gòu)(4光柵轉(zhuǎn)換)。

雜散光控制:

≤0.00005% (340 nm,NaNO?)

≤0.00008% (220 nm,NaI)。

光度準(zhǔn)確性:±0.003 Abs(1.0 Abs)。

?關(guān)鍵指標(biāo)?

參數(shù) 數(shù)值/說(shuō)明

波長(zhǎng)準(zhǔn)確性 ±0.2 nm(紫外-可見區(qū))

掃描速度 最高9000 nm/min(近紅外區(qū))

基線平滑度 ±0.001 Abs(200-3000 nm)

光源 鹵素?zé)?氘燈,自動(dòng)切換

?二、應(yīng)用場(chǎng)景與擴(kuò)展功能?

?樣品適應(yīng)性?:

液體樣品為主,通過(guò)多功能大樣品室或積分球附件支持固體樣品測(cè)試(如鍍膜玻璃、粉末材料)。

可選配恒溫池架、超微量池架等,滿足特殊實(shí)驗(yàn)需求。

?典型用途?:

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