描述：

AQ6317C 回收 AQ6317C 光譜分析儀

歐陽R:13537;;;229325

安藤AQ6317C 光譜分析儀 的是一種先進(jìn)的廣泛應(yīng)用,

AQ6317C是先進(jìn)的光譜分析儀,它應(yīng)用廣泛,適用于光學(xué)儀器中的光源測(cè)試、波長(zhǎng)損耗特性的測(cè)量以及WDM系統(tǒng)的波形分析。

特別對(duì)于C波段和L波段,該裝置有很高的波長(zhǎng)精度和波長(zhǎng)線性特性,并且能對(duì)用于WDM的光學(xué)儀器進(jìn)行測(cè)評(píng)。裝置所提供的分析功能使操作和擴(kuò)充變得簡(jiǎn)單。與以前的型號(hào)相比,AQ6317C的波長(zhǎng)精度已提高到±20pm,并且該指標(biāo)值也是L波段的公稱值。WDM的分析功能和凹口寬度的分析功能已得到進(jìn)一步改善,并新增加了多通道NF分析功能和光濾波器的分析功能。加上在其它方面的改進(jìn)例如掃描的加速,該裝置非常容易操作和使用。

AQ6317C包含了Ando關(guān)于光譜分析儀的新技術(shù)-是下一代測(cè)試的參考設(shè)備。

特點(diǎn):

1、 高波長(zhǎng)精度

在600至1750nm全波長(zhǎng)范圍內(nèi),精度可達(dá)±0.1nm,在1520-1580nm范圍

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