描述：

1.儀器的基本信息：

儀器名稱：掃描電子顯微鏡

英文名：Scanning Electron Microscope

型號：Hitachi S-3400N

產(chǎn)地：日本

2.儀器的用途：

Hitachi S—3400N型掃描電子顯微鏡，主要用于對材料的微觀形貌、組織和成分進行有效分析。

3.儀器的性能指標：

1）分辨率

二次電子探頭：≤3.0 nm（在30kV，高真空模式)，≤10 nm（在3 kV，高真空模式)；被散射探頭

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