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出售?？怂箍?8.10.06三坐標(biāo)測量儀雷尼紹PH10T測座 [7圖]

參數(shù)如下:三軸行程:800x1000x600mm機(jī)床重量:1074kg出廠日期:2021年雷尼紹PH10T測座

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轉(zhuǎn)讓處理海克斯康10.12.08三坐標(biāo)測量儀Z軸行程800 [4圖]

三軸行程:1000x1200x800mm出廠日期:2022年

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轉(zhuǎn)讓處理蔡司CONTURA G2 7 10 6三坐標(biāo)測量儀 [6圖]

參數(shù)如下:三軸行程:700x1000x600mm測座:RDS測頭:VAST XXT出廠日期:2014年

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轉(zhuǎn)讓處理二手?？怂箍?0.12.08三坐標(biāo)測量儀Z軸行程800 [4圖]

參數(shù)如下:三軸行程:1000x1200x800mm出廠日期:2022年

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求購三坐標(biāo)落地隔振平臺測量儀器減震臺座BK-GT型號光學(xué)設(shè)備減振平臺 [1圖]

求購三坐標(biāo)落地隔振平臺測量儀器減震臺座BK-GT型號光學(xué)設(shè)備減振平臺

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轉(zhuǎn)讓處理蔡司07-07-06 RDS三坐標(biāo)測量儀X軸行程700 [7圖]

參數(shù)如下:測量范圍:700x700x600mmRDS XXT旋轉(zhuǎn)掃描測座C99L控制器

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轉(zhuǎn)讓?？怂箍礕LOBAL7 10 7三坐標(biāo)測量儀X軸行程700 [6圖]

參數(shù)如下三軸行程:700x1000x700mm精度:2.8+L/300um機(jī)器重量:1390kg外形尺寸:1250x1910x2696mm出廠日期:2018年

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轉(zhuǎn)讓處理海克斯康Explorer08.12.06三坐標(biāo)Y軸行程1.2米 [5圖]

參數(shù)如下:行程:800x1200x600mm機(jī)器重量:1196kg外形尺寸:1350x2023x2658mm出廠日期:2022年

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轉(zhuǎn)讓ACCRETECH AD3000T-PLUS劃片機(jī) [6圖]

主軸系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)速:60,000 RPM(支持最高 80,000 RPM 選配)功率:1.8 kW(可選 2.2 kW 高扭矩主軸)刀片尺寸:標(biāo)配 Φ60 mm(2 英寸),可選 Φ80 mm(3 英寸)磨刀功能:可搭載兩片 75×75 mm 磨刀板,支持主軸刀片在線修磨軸運(yùn)動參數(shù)X 軸:最高速度 1…

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KLA Surfscan SP2顆粒測量儀出售 [6圖]

1. 檢測能力最小缺陷靈敏度:對硅襯底及薄膜的檢測極限為 37 nm,適用于 ≥65 nm 設(shè)計(jì)規(guī)則的成熟工藝節(jié)點(diǎn),同時支持射頻、汽車電子、SiC、GaN 等新興技術(shù)。在特殊配置下(如高靈敏度模式),可擴(kuò)展至更小缺陷的研發(fā)場景。缺陷類型覆蓋:可檢測顆粒、機(jī)械劃痕、滑移線、殘留物、表面微粗糙度變化(通…

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專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì) 求購光電測量儀器儀表高質(zhì)量團(tuán)隊(duì) 服務(wù)周到 [3圖]

專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì) 求購光電測量儀器儀表高質(zhì)量團(tuán)隊(duì) 服務(wù)周到

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轉(zhuǎn)讓處理思瑞121510三坐標(biāo)測量儀三坐標(biāo) [5圖]

參數(shù)如下行程:1200x1500x1000mm工作臺尺寸:2480x600mm外形尺寸:1839x2896x3480mm空間移動速度:400mm/s空間移動加速度:1000mm/s2允許測量誤差:3.5+L/300um允許探測誤差:4.0um稱重:1800kg重量:3792kg溫度:20+2°c濕度…

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Teknologue PU4500A測量儀設(shè)備出售

1)測量范圍與精度通用測量儀參數(shù):測量范圍:0-3000μm(如測厚儀)。精度:±0.075%(如差壓液位變送器)或 ±0.01pH(如 pH 測量儀)。分辨率:0.1μm 至 1μm 不等。(2)環(huán)境適應(yīng)性溫度范圍:-40°C 至 + 100°C(如角度傳感器)或 - 40°C 至 70°C(如工…

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KLA Surfscan SP1 TBI顆粒測量儀設(shè)備出售 [1圖]

晶圓尺寸支持 150 mm、200 mm、300 mm 晶圓,通過適配板可快速切換不同規(guī)格(如 150 mm 與 200 mm 晶圓)。兼容特殊襯底:厚度達(dá) 1500 μm、翹曲度 ≤ 75 μm 的 200 mm 硅襯底,以及 SiC、GaN、藍(lán)寶石等復(fù)合材料。硬件配置激光光源:488 nm 氬離…

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E+H Metrology晶圓厚度測量儀設(shè)備出售

1. MX60 系列(高精度綜合測量)適用晶圓:150mm、200mm、300mm。厚度范圍:500–800μm(可選 300–600μm)。厚度精度:±0.05μm(MX608 型號)。電阻率范圍:0.001–200Ω?cm,精度 ±1%(0.001–80Ω?cm)至 ±5%(200Ω?cm)。掃…

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LIFETIME LTA-500壽命測量儀設(shè)備出售

多維度壽命測試:支持對電子元件、電池、機(jī)械部件等進(jìn)行循環(huán)壽命、熱穩(wěn)定性、環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)等測試。自動化數(shù)據(jù)采集:集成傳感器實(shí)時監(jiān)測電壓、電流、溫度、壓力等參數(shù),生成動態(tài)壽命曲線。多場景模擬:可復(fù)現(xiàn)高溫、高濕、振動、沖擊等極端工況,加速產(chǎn)品失效以縮短測試周期?？赡艿募夹g(shù)特點(diǎn)參考行業(yè)內(nèi)同類設(shè)備(如…

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MITUTOYO QS250Z1J影像測量儀設(shè)備出售

測量范圍X 軸:200mmY 軸:250mmZ 軸:100mm工作臺玻璃尺寸:269×311mm最大工件高度:110mm,臺面承重 10kg精度指標(biāo)XY 軸精度:(2.5 + 6L/1000) μm(L 為測量長度,單位 mm)Z 軸精度:(5 + 6L/1000) μm分辨率:0.1μm(線性編碼…

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半導(dǎo)體設(shè)備KLA Surfscan SP2顆粒測量儀出售 [3圖]

半導(dǎo)體設(shè)備KLA Surfscan SP2顆粒測量儀出售,有需要聯(lián)系我

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半導(dǎo)體設(shè)備KLA Surfscan SP1 TBI顆粒測量儀出售 [5圖]

半導(dǎo)體設(shè)備KLA Surfscan SP1 TBI顆粒測量儀出售,有需要的聯(lián)系我,微同手機(jī)號

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KLA Surfscan SP2顆粒測量儀出售

靈敏度標(biāo)準(zhǔn)模式:可檢測硅襯底上尺寸>37nm 的缺陷,適用于≥4x nm 制程節(jié)點(diǎn)(如 45nm、28nm)的工藝監(jiān)控。高靈敏度模式:擴(kuò)展研發(fā)應(yīng)用,支持多晶硅、鎢、銅等材料的檢測,部分配置下可識別小至 30nm 的缺陷。金屬檢測:通過擴(kuò)展薄膜靈敏度(XFS)光罩升級選項(xiàng),可優(yōu)化對銅(Cu)、鎢(W)…

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KLA Surfscan SP1 TBI顆粒測量儀出售 [3圖]

最小檢測尺寸:在高靈敏度(HS)模式下,斜入射(DWO 通道)可檢測小至0.060 μm(60 nm)的顆粒缺陷,垂直入射(DWN 通道)靈敏度為0.083 μm。對于光滑表面(如裸硅),這一指標(biāo)可穩(wěn)定達(dá)到**±0.05 μm**的精度。缺陷類型覆蓋:支持顆粒、劃痕、霧度(Haze)、晶體原生凹坑(…

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LTX CREDENCE KALOS XW內(nèi)存測試儀出售

1. 測試能力與并行處理并行測試規(guī)模:支持同時測試32 顆 NOR 閃存芯片或64 顆 NAND 閃存芯片,并可處理128 顆串行非易失性存儲器(如 EEPROM)。這種高密度并行測試能力顯著提升了量產(chǎn)效率,尤其適合 NAND 閃存的快速驗(yàn)證。測試速度:針對不同容量的芯片,測試耗時差異較大。例如,幾…

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